南京荧光显微镜 来电咨询 茂鑫供

因为我们不容易搞到光学镜片，在这里我只做到160倍，画面和清晰度还是非常不错和.的，感觉和厂家生产的非常接近，如果用这类镜片制作，在200-300倍之间还是可以的，主要是更换不同焦距的镜片。首先是材料：厚纸、胶水、放大镜，木板、钉子等若干。我们先来做物镜，用一个放大20倍的大倍率放大镜（如图），把镜片从铁质镜架上取下，一般情况下朋友们不知道怎么拆，其时在放大镜的一端有一个环，像螺帽一样，找到它，顺时针或逆时针旋转，把它扭下来后，放大镜即可取出。取出的镜片用厚的白卡纸或铜版纸卷起来粘好固定起来，里面可用墨汁涂黑，减少内壁对光的漫反射，消除干扰，对.成像起到很关键的作用，.一点要注意，在物镜后面切记要做一个光栅，因为这种镜片不是真正的光学镜片，色差还是有的，只能用缩小口径来解决，这块镜片的真径是18毫米，光栅直径我们只能做到8-10毫米这样子，很多没做过光学器材如望远镜之类的朋友不一定知道什么是光栅，光栅是为了解决光学镜片因质量和球差不好而设置的一块小圆片，它的大小和镜片（或镜筒内径）一样大，只是中间开着一个小圆孔，圆孔的直径比物镜的直径小，它主要起到缩小物镜口径，消除色差，使成像质量更加消晰的效果。在暗视野观察物体，照明光大部分被折回，由于物体(标本)所在的位置结构，厚度不同，光的散射性。南京荧光显微镜

测量振荡微悬臂的振幅或相位变化，也可以对样品表面进行成像。摩擦力显微镜摩擦力显微镜（LFM）是在原子力显微镜（AFM）表面形貌成像基础上发展的新技术之一。材料表面中的不同组分很难在形貌图像中区分开来，而且污染物也有可能覆盖样品的真实表面。LFM恰好可以研究那些形貌上相对较难区分、而又具有相对不同摩擦特性的多组分材料表面。一般接触模式原子力显微镜（AFM）中，探针在样品表面以X、Y光栅模式扫描（或样品在探针下扫描）。聚焦在微悬臂上的激光反射到光电检测器，由表面形貌引起的微悬臂形变量大小是通过计算激光束在检测器四个象限中的强度差值（A+B）-（C+D）得到的。反馈回路通过调整微悬臂高度来保持样品上作用力恒定，也就是微悬臂形变量恒定，从而得到样品表面上的三维形貌图像。而在横向摩擦力技术中，探针在垂直于其长度方向扫描。检测器根据激光束在四个象限中，（A+C）-（B+D）这个强度差值来检测微悬臂的扭转弯曲程度。而微悬臂的扭转弯曲程度随表面摩擦特性变化而增减（增加摩擦力导致更大的扭转）。激光检测器的四个象限可以实时分别测量并记录形貌和横向力数据。南京荧光显微镜上海显微镜提供产品技术支持,贴心的光学仪器供应商,点击咨询!

徕卡偏光显微镜是徕卡显微镜系列中的一种，偏光显微镜是一种在其光学系统中包含偏振器的显微镜，它能够显示和分析材料的各种光学性质，如折射率、双折射、吸收、散射等。徕卡品牌通常与高质量、高级别的光学设备相关联，因此徕卡偏光显微镜被认为是一种高精密的设备。DM2700P徕卡偏光显微镜是地球科学，塑料和聚合物行业，液晶检查以及更多领域中各种常规检查任务的理想检查工具。无论是产品设计工艺还是内在性能，总能为您带来意想不到的惊喜。无论是矿物、塑料和聚合物、药物药品或燃料和接合剂，DM2700P徕卡偏光显微镜都能帮助您观察到感兴趣的内容，完成您的研究或质量控制任务。应用：地球科学：地质学、岩石学、矿物学、晶体结构表征、石棉分析和煤分析(镜质体反射率)。质量控制：玻璃(应力双折射或夹杂物)、塑料和聚合物(应力双折射)、纺织品和纤维、电子显示器和液晶检查。

徕卡体视显微镜简要描述：M165C徕卡体视显微镜工作结果十分准确、可靠，轻松采集重要细节的图像，可提高生产线或品管部门效率、优化光学检查，符合人体工学的显微镜工作空间，让您舒适工作。徕卡体现显微镜的热补偿焦距稳定技术，即双金属片反向膨胀抵消技术，抵消机体由于长时间热效应带来的调焦面移动。M165C徕卡体视显微镜特点：1、10倍目镜加1倍物镜下的标准放大倍数；2、可连续变倍，也可分级变倍，可实现在两档固定倍数间快速切换观察，变倍观察时齐焦性良好；3、内置可调的带编码双光阑，调节图像的景深和对比度；4、可配电动调焦支架，可连接数码相机、摄像头；5、具有多个不同倍数的物镜可选，组合出多种放大倍数；6、可手动转换荧光滤块，带编码信息输出。上海茂鑫供应Leica徕卡显微镜-显微镜厂家-提供种类光学显微镜。

5.力-距离曲线——简称力曲线SFM除了形貌测量之外，还能测量力对探针-样品间距离的关系曲线Zt（Zs）。它几乎包含了所有关于样品和针尖间相互作用的必要信息。当微悬臂固定端被垂直接近，然后离开样品表面时，微悬臂和样品间产生了相对移动。而在这个过程中微悬臂自由端的探针也在接近、甚至压入样品表面，然后脱离，此时原子力显微镜（AFM）测量并记录了探针所感受的力，从而得到力曲线。Zs是样品的移动，Zt是微悬臂的移动。这两个移动近似于垂直于样品表面。用悬臂弹性系数c乘以Zt，可以得到力F=c·Zt。如果忽略样品和针尖弹性变形，可以通过s=Zt-Zs给出针尖和样品间相互作用距离s。这样能从Zt（Zs）曲线决定出力-距离关系F（s）。这个技术可以用来测量探针尖和样品表面间的排斥力或长程吸引力，揭示定域的化学和机械性质，像粘附力和弹力，甚至吸附分子层的厚度。如果将探针用特定分子或基团修饰，利用力曲线分析技术就能够给出特异结合分子间的力或键的强度，其中也包括特定分子间的胶体力以及疏水力、长程引力等。图（force-separationcurve）特征。微悬臂开始不接触表面（A），如果微悬臂感受到的长程吸引或排斥力的力梯度超过了弹性系数c，它将在同表面接触之前。各种元件的性能说明 (1) 相位板使直接光的相位移动 90°，并且吸收减弱光的强度。苏州销售显微镜价格多少

(3) 单色滤光镜系用中心波长546nm(毫微米)的绿色滤光镜。通常是用单色滤光镜入观察。南京荧光显微镜

茂鑫是一家代理德国徕卡清洁度检测仪DM4M、孔隙率检测仪、3D扫描仪DVM6、影像测量仪等检测设备的公司，茂鑫实业将在展览会上展示其新的产品和技术，以满足客户的需求。1.斥力模式原子力显微镜（AFM）微悬臂是原子力显微镜（AFM）关键组成部分之一，通常由一个一般100～500μm长和大约500nm～5μm厚的硅片或氮化硅片制成。微悬臂顶端有一个尖锐针尖，用来检测样品－针尖间的相互作用力。对于一般的形貌成像，探针尖连续（接触模式）或间断（轻敲模式）与样品接触，并在样品表面上作光栅模式扫描。通过计算机控制针尖与样品位置的相对移动。当有电压作用在压电扫描器电极时，它会产生微量移动。根据压电扫描器的精确移动，就可以进行形貌成像和力测量。原子力显微镜（AFM）设计可以有所不同，扫描器即可以使微悬臂下的样品扫描，也可以使样品上的微悬臂扫描。原子力显微镜（AFM）压电扫描器通常能在（x,y,z）三个方向上移动，由于扫描设计尺寸和所选用压电陶瓷的不同，扫描器比较大扫描范围x、y轴方向可以在500nm～125μm之间变化，垂直z轴一般为几微米。好的扫描器能够在小于1尺度上产生稳定移动。通过在样品表面上扫描原子力显微镜（AFM）微悬臂。南京荧光显微镜